ABOUT THE BOOK
内容简介
本书全面阐述了电子系统测试原理，共分为五个部分，第1部分介绍本书的目的、电子产品的缺陷种类、VLSI设计表示与设计流程；第II部分介绍故障模拟、测试码产生及电流测试方法；第III部分讨论易测性设计问题，分别介绍专用技术、路径扫描设计、边界扫描测试和内建自测试技术；第IV部分介绍特殊结构的测试，包括存储器、FPGA和微处理器的测试；第v部分涉及当前电子系统测试领域中的前沿问题，包括如何实现易测试性结构和进行SOC试。 本书可作为电子信息类专业研究生教材和IC测试工程技术人员的参考书。
READING NOTES
《电子系统测试原理》读书笔记与读后感
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